ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方，zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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测试元素 As Sb Bi Pb Zn Te Se Zn Ge Cd Hg 检出限（DL）ng/mL ＜0.01 ＜1.0 ＜0.05 ＜0.001 重复性（RSD） <0.9 线性范围 大于三个数量级 道间干扰 0

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实

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X-MET7000系列手持式合金分析光谱仪牛津仪器新款X-MET7000和X-MET7500手持式能量色散X射线荧光（XRF）分析仪，操作简单，分析结果非常精确。它无与伦比的检测能力可以满足高的应用要求。材料可靠性鉴定、质量控制保证、痕量元素分析，都只需几秒种就可以完成。

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EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

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